Поиск

Растровые электронные микроскопы

Фильтр

Показать по:12 24 48 96

Список Таблица

Cканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SemOn F-300

В сканирующем электронном микроскопе SemOn F-300 используется технология полевой эмиссии Шоттки

Характеристики

Напольный растровый электронный микроскоп Coxem CX200 Plus

Полноразмерная напольная модель сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), которую как новички, так и опытные пользователи найдут подходящей для многих типов сложных исследований и контроля качества

Характеристики

Установка ионно-лучевого полирования IP-10K

IP-10K представляет собой усовершенствованную установку ионно-лучевого полирования, которая предлагает широкий спектр возможностей благодаря множеству опций. Среди них выделяются фрезерование плоскостей, охлаждаемый предметный столик и воздухозащитный модуль

Характеристики

Настольная установка магнетронного напыления металлов Nano-Structured Coatings DST3 для исследований в РЭМ

Настольная установка магнетронного напыления с тремя магнетронами DST3 используется для напыления металлов, диэлектриков, полупроводников на подложки диаметром до 200 мм

Характеристики

Настольный растровый микроскоп Coxem EM-30N

Самая популярная модель настольного РЭМ на основе вольфрамовой нити. Благодаря технологии DSP (цифровой обработки сигнала) он обеспечивает кристально чистые изображения с низким уровнем шума даже при большом увеличении

Характеристики

Растровый электронный микроскоп CX-300

CX-300 — новейший полноразмерный сканирующий электронный микроскоп (SEM), позволяющий анализировать еще больший спектр образцов, за счет добавления воздухозащитного модуля, предотвращающего возможные повреждения под воздействием атмосферы и возможности анализа больших площадей.

Ко всему прочему, автоматическая регулировка яркости и контрастности была уменьшена до 1 секунды. Оцените более быструю и оптимизированную визуализацию и выберите настройки CX-300 в соответствии с вашими конкретными требованиями.

Характеристики

Растровый электронный микроскоп EM-40

Растровый электронный микроскоп EM-40 представляет новую модель в линейке настольных микроскопов серии EM. Оснащен технологией сверхбыстрой обработки сигнала 5-го поколения и обеспечивает высококачественное изображение с частотой до 13 кадров в секунду. Четыре режима обработки изображений (Fast, Slow, UltraFast, Photo).

Характеристики

Растровый электронный микроскоп CX-200K

CX-200K — это стандартный, но мощный полноразмерный сканирующий электронный микроскоп (SEM), разработанный для удовлетворения широкого спектра потребностей в исследованиях и контроле качества. Благодаря совершенно новому, интуитивно понятному графическому интерфейсу NanoStation5 CX-200K работа упрощается, а эффективность растет.

Благодаря максимальному увеличению в 500 000 раз обеспечивается превосходное изображение с высоким разрешением. Оцените более быструю и оптимизированную визуализацию и выберите настройки CX-200K в соответствии с вашими конкретными требованиями. CX-200K сочетает в себе передовые технологии и простоту использования, устанавливая новый стандарт для базовой, но мощной микроскопии.

Характеристики

Растровый электронный микроскоп Coxem EM-30LE

Характеристики

Растровый электронный микроскоп Coxem EM-30AX PLUS

Растровые электронные микроскопы (РЭМ) используются для исследования микроструктуры поверхности, количественного элементного анализа в точке наблюдения как природных объектов, так и искусственных материалов.

Характеристики

Растровый электронный микроскоп Coxem EM-30AX

Автоматический без эталонный количественный анализ в ПО NORAN System 7 обеспечивает быструю идентификацию различных областей внутри материала.

Характеристики

Растровый электронный микроскоп Coxem EM-30 PLUS

4-канальный детектор BSE позволяет получить изображение в композиционном контрасте, зависящем от химического состава образца. Детектор монтируется опционально

Характеристики

1 2