Конфокальный микроскоп серии CM представляет собой прибор для измерения микро-наноуровня различных прецизионных устройств и поверхностей материалов. Прибор основан на принципе конфокальной технологии в сочетании с высокоточным модулем сканирования в направлении Z, алгоритмом 3D-моделирования для бесконтактного сканирования поверхности детали и создания 3D-изображения поверхности.