Фильтр
Настольный растровый микроскоп Nanometric серии SemOn F-100
Настольный РЭМ начального уровня с источником электронов с вольфрамовой нитью, предназначенный для лабораторий с ограниченным пространством.
Характеристики
Полноразмерный растровый микроскоп Nanometric серии SemOn F-200
Полноразмерный РЭМ. Поставляемый с вольфрамовым катодом, F-200 имеет эффективное увеличение более 100 000 ×.
Характеристики
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) PicoEye 100K

PicoEye 100K – это компактный SEM с источником электронов с вольфрамовой нитью накала.

Характеристики
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) PicoEye 200K
Наш автоэмиссионный SEM PicoEye 200K обладает высоким разрешением и контрастностью, что позволяет пользователям получать подробную информацию об изображении.

Характеристики
Корреляционный оптико-электронный микроскоп (CLEM) BioFlash
Корреляционный оптико- электронный микроскоп инверсивного типа.

Характеристики
Корреляционный оптико-электронный микроскоп (CLEM) NanoFlash

Корреляционный оптико- электронный микроскоп вертикального типа.

Характеристики
Сканирующий оптический микроскоп M8

Устройство M8 от компании PreciPoint – это сканирующий микроскоп, простота использования которого сравнима со смартфоном.

Характеристики
Сканирующий акустический микроскоп AMOS
Характеристики
Интерференционный микроскоп IMOS

Микроскоп обеспечивает точные, количественные, совместимые со стандартом ISO, бесконтактные измерения профиля поверхности с возможностью захвата до двух миллионов точек данных за считанные секунды. Оборудование способно работать в режиме микроизмерений и наноизмерений в зависимости от оптической системы и решать любые задачи.

Характеристики
Настольный растровый электронный микроскоп JCM-6000
Новый растровый (сканирующий) электронный микроскоп — продукт совместной разработки двух хорошо известных производственных корпораций из Японии, а именно, известнейшего производителя оптических приборов Nikon и флагмана в электронной микроскопии — компании Jeol.
Характеристики
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100
JEM-2100 — просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения с превосходной управляемостью и возможностью масштабирования.
Характеристики
Растровый электронный микроскоп с ионной пушкой JIB-4501
Многолучевой растровый электронный микроскоп, совмещенный с ионной пушкой для формирования сфокусированного ионного пучка.
Характеристики