Фильтр
Интерференционный микроскоп IMOS

Микроскоп обеспечивает точные, количественные, совместимые со стандартом ISO, бесконтактные измерения профиля поверхности с возможностью захвата до двух миллионов точек данных за считанные секунды. Оборудование способно работать в режиме микроизмерений и наноизмерений в зависимости от оптической системы и решать любые задачи.

Характеристики
TopMap Pro.Surf+ Интерферометр белого света TMS-500R
Удобство системы TMS-500-R TopMap Pro. Surf+ заключается в том, что она позволяет определять и отклонение формы, и шероховатость быстро, надежно и точно. Модернизация высококлассной системы TopMap Pro.Surf представляет собой многофункциональное решение благодаря встроенному датчику шероховатости.

Характеристики
TopMap μ.Lab Оптический профилометр TMS-1200
За счет большого пространственного разрешения измерительный микроскоп TMS-1200 TopMap μ.Lab задает новый уровень бесконтактного измерения топографии.

Оптический профилометр быстро определяет такие параметры, как текстура, плоскостность и шероховатость на мелких и хрупких структурах. Технология умного сканирования поверхности от компании Polytec значительно упрощает измерения на образцах с разной отражающей способностью.

Характеристики