NPS – конфокальный точечный сканер с источником белого света и высокоточным моторизованным столиком перемещений. Он обеспечивает измерения высоты любых поверхностей со сверхмикронной точностью без контакта с образцом.
Высокоскоростное сканирование
При перемещении образца с помощью высокоточного моторизованного координатного столика по одной оси NPS получает серию точечных изображений с установленным интервалом с высокой скоростью: высоту, расстояние, радиус, шероховатость (Ra, Rz, Rt и т.д.) и прочие параметры можно измерить за несколько секунд!
Параметры
|
Ед.изм.
|
Этап 1
|
Этап 2
|
Этап 3
|
Этап 4
|
Этап 5
|
Этап 6
|
Этап 7
|
Этап 8
|
Этап 9
|
Максимальная высота
|
µм
|
201
|
200
|
203
|
197
|
198
|
201
|
216
|
203
|
210
|
Получение данных о поверхности с высоким разрешением
При точечном сканировании по одной линии NPS получает трехмерные данные и создает трехмерную поверхность с высоким разрешением, благодаря чему можно измерять объем, шероховатость поверхности (Sa, Sz,…), объекты сложной формы, волнистость поверхности в трех осях и многое другое. При этом продолжительность сканирования зависит от количества линий, скорости сканирования и размеров образца.
Работает на любых поверхностях
Конфокальная система создает четко сфокусированную плоскость наблюдения. Точки, расположенные над или под поверхностью объекта, полностью находятся не в фокусе, поэтому тип материала не имеет значения: образец может иметь зеркальную, блестящую, отражающую или шероховатую поверхность, может быть непроницаемым или полностью прозрачным.
Измерения сертифицированы по стандартам ISO
Технология хроматической конфокальной микроскопии с использованием источника белого света сертифицирована по стандартам ISO и в настоящее время применяется для измерения шероховатости многими компаниями и исследовательскими центрами по всему миру.
NPS обеспечивает высокоточные измерения по осям XYZ, которые не ограничиваются оптической глубиной резкости.
|
|
Конфокальная микроскопия с использованием источника белого света
NPS представляет собой инновационный бесконтактный конфокальный 3D профилометр, обеспечивающий измерения высоты в режиме реального времени и предназначенный для сканирования профиля или поверхности:
- Луч светодиодного источника белого цвета пропускается через светоделитель и ахроматическую линзу и попадает на поверхность образца
- Луч света, отражаемый от образца, направляется в конфокальное точечное отверстие, идеально фокусирующее волны одной длины
- Спектрометр NPS точно переводит длину волны в данные по высоте и отображает их в программе NPS
- При перемещении предметного столика по осям XY можно выполнять до 2000 измерений высоты профиля в секунду и получать соответствующие данные по рельефу поверхности в режиме реального времени
|
|
Имеется возможность выбора одного из двух режимов: профиль или поверхность
Широкий диапазон измерений
Самый быстрый способ выполнить измерения! После сканирования поверхности между двумя точками NPS отображает профиль, после чего можно отрегулировать уровень, измерить расстояния по горизонтали и вертикали, а также выполнить измерения параметров Ra, Rz и Rt.
Для использования расширенных возможностей измерений необходимо выбрать нужный шаблон Hirox Map в меню NPS. С помощью новой программируемой функции формирования нескольких профилей достаточно просто сформировать несколько отдельных профилей в один отдельный отчет.
|
|
Контур и рельеф
Можно легко измерить контур и рельеф поверхности сферического объекта. Результаты измерения кривизны можно сравнить, например, с данными, приводимыми в спецификации изготовителя. С помощью NPS можно без труда измерять длину, высоту, радиус, угол, объем и проч. параметры других геометрических фигур, таких как линии, плоскости, сферы, цилиндры или объекты произвольной формы.
Благодаря тому, что измерения можно производить в диапазоне до 4000 микрометров, прибор можно использовать для измерения параметров поверхностей различной формы и рельефа.
|
|
Плоскостность, волнистость и компланарность
С помощью сканера Nano Point Scanner можно легко измерять искривление, деформацию, волнистость или плоскостность поверхностей большой площади!
Благодаря большому координатному столику, имеющему размеры до 500x500 мм, можно измерять дефекты, которые могут возникать, например, из-за неисправности станка или некачественного выполнения работ, остаточного напряжения, вибрации или термообработки.
Еще одним параметром, для измерения которого требуются большие расстояния и высокий уровень точности по оси Z, является компланарность. Измерение данного параметра производится на основании данных по рельефу или поверхности.
Шероховатость, текстура и дефекты
Измерения параметров поверхности дают представление о ее геометрии, что необходимо для подтверждения пригодности поверхности для выполнения своих функций.
|
|
При определении характеристик поверхности производятся измерения неровности рельефа (Ra), шероховатости поверхности (Sa), текстуры поверхности, выступов на шероховатой поверхности и структуры.
|
|
Для гарантии соответствия готовой продукции проектным требованиям решающее значение для производства и проектирования имеют данные измерений.
Для получения информации по испытаниям образцов с помощью инновационного сканера NPS необходимо обращаться в нашу компанию
Сканеры NPS
Сканеры, которые удовлетворяют любым требованиям. Для обеспечения непрерывных высокоточных измерений наша компания предлагает широкий выбор сканеров. Заказчик может выбрать наиболее подходящий для него сканер с учетом конкретного применения: небольшой диапазон измерения с максимальной точностью и измерения шероховатости или большой диапазон измерения для измерения высоких образцов и рельефов.
|
NP1
|
NP2
|
NP3
|
NP4
|
NPX3
|
Изображение
|
|
|
|
|
|
Диапазон измерений
|
150 μм
|
400 μм
|
1400 μм
|
4000 μм
|
1000 μм
|
Рабочее расстояние
|
3,3 мм
|
10,8 мм
|
12 мм
|
16,2 мм
|
18,5 мм
|
Макс. уклон поверхности образца
|
42,5°
|
28°
|
25°
|
21°
|
44°
|
Разрешающая способность в поперечном направлении
|
1 μм
|
1,8 μм
|
2,6 μм
|
4,6 μм
|
4 μм
|
Точность измерения по высоте
|
20 нм
|
45 нм
|
150 нм
|
300 нм
|
100 нм
|
Подходит для измерения шероховатости
|
OK
|
OK
|
OK
|
|
OK
|
По вопросам выбора оптимального сканера с учетом конкретной сферы применения рекомендуется обращаться в нашу компанию.