Cканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SemOn F-300

ООО «Остек-АртТул»
121087, г. Москва, ул. Барклая, д. 6, стр. 3, эт/ком 5/1-17
(495) 788-44-44, (495) 788-44-42
www.arttool.ru, info@arttool.ru
ИНН 7731481038, КПП 773001001, ОГРН 5147746189036,
ОКПО 99721242

Cканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SemOn F-300

Добавить в лист запросов запросить в один клик Заказать звонок

Печать/PDF

Описание
Технические характеристики

В сканирующем электронном микроскопе SemOn F-300 используется технология полевой эмиссии Шоттки

Передовая полнополосная технология ускорения, интегрированная в электронно-оптическую колонну обеспечивает превосходные характеристики изображения при низких ускоряющих напряжениях, а также позволяет получать изображения высокого разрешения различных материалов

Многочисленные детекторы собирают разнообразные электронные сигналы, излучаемые образцом, для получения изображения, в максимальной степени раскрывая микро- и наноскопическую морфологию и структурную информацию образца

Преимущества
Превосходная визуализация с высоким разрешением

Полевой эмиссионный электронный катод Шоттки обеспечивает высокую стабильность пучка
Технология ускорения электронов на протяжении всей колонны обеспечивает высокую производительность визуализации электронного пучка даже при низких ускоряющих напряжениях
Конструкция объектива не допускает утечки магнитных полей из объектива, тем самым обеспечивая высокое качество визуализации магнитных образцов

Комплексная система сбора сигналов

Одновременный сбор сигналов включает два типа: вторичные электроны и обратно рассеянные электроны
Одновременное представление морфологического и композиционного контраста раскрывает микроскопическую морфологию и информацию о составе образца в максимальном объеме

Удобный и доступный пользовательский интерфейс

Быстрая и точная навигация по образцам, ясный и понятный пользовательский интерфейс
Разнообразные функции автоматизации обеспечивают высокую пропускную способность процесса визуализации
Оснащен множеством систем безопасной блокировки, надежен и эффективен

Многофункциональная панель управления

Пульт стандартной конфигурации, многофункциональный, с высокой степенью интеграции
Эргономичный дизайн, соответствующий предпочтениям пользователя
Предустановленные клавиши быстрого доступа для условий визуализации для повышения эффективности работы

Мощная и универсальная аналитическая платформа

Модульная конструкция с расширяемой системной архитектурой
Возможны индивидуальные решения в соответствии с требованиями конкретных задач
Множество портов, совместимых с различными аксессуарами сторонних производителей, такими как EDS, EBSD, WDS, CL и т.д., что позволяет проводить как визуализацию, так и анализ

Применение


Полимерные микросферы	Ткани коры головного мозга мыши	Сланец (горная порода)

Решетка фоторезиста на подложке из оксида аллюминия	Пыльца космеи дваждыперистой	Пиксели дисплея

Биопсия почечной ткани	Сенсиллы усиков жука-оленя	Поверхность листьев камфоры

Частицы золота	Полированная металлическая поверхность	Углеродные наночастицы

Нанопластины диоксида титана	Материал катода литий-ионного аккумулятора	Электрод из оксида кремния

Известковые частицы на поверхности бумаги	Пирамидальная структура фотоэлектрических кремниевых пластин	Графен с пористой слоистой структурой

Разрешение		15 кВ 1,0 нм (SE) 1 кВ 1,5 нм (SE)
Ускоряющее напряжение	0,02~30 кВ
Увеличение	1~2000000x
Катод		Шоттки (полевая эмиссия)
Тип объектива	Композитный объектив, объединяющий электростатическую и магнитную линзы
Ток пучка	1 пА~20 нА (100 нА опционально)
Изображение	256256~16к16к

Детектор и опции
Стандартная конфигурация		Внутрилинзовый детектор вторичных электронов, детектор вторичных электронов в трубке
Опционально		Детектор обратно рассеянных электронов, сканирующий просвечивающий электронный детектор STEM, оборудование для плазменной очистки, EDS, EBSD, WDS
Камера для образцов
Камера		Внутренний диаметр 340 мм, высота 260 мм, множество интерфейсов, позволяющих добавлять EBSD, EDS и другие детекторы
Предметный столик		Моторизированный пятиосевой предметный столик, максимальный вес образца 2,5 кг, X, Y=125 мм, Z=50 мм, R=360° непрерывно, T=-5~70°
Система визуализации		Цифровая камера, вид сверху, вид сбоку
Программное обеспечение и обработка изображений
Язык		Русский/Английский
Операционная система		Windows
Автоматизированные функции		Автоматическое выравнивание источника электронов, автоматическое выравнивание диафрагмы, автоматическая фокусировка/стигматизация, автоматическая яркость/контрастность и т.д.
Другие особенности		Разделенный экран, аннотации, изменение направления сканирования, сшивка , компенсация наклона, сшивание изображений большой площади и т. д.

Cканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией SemOn F-300

Преимущества

Применение

Детектор и опции

Камера для образцов

Программное обеспечение и обработка изображений

Запросить в один клик

Заполните форму

Запрос оборудования на тестирование