Растровый электронный микроскоп EM-40

Растровый электронный микроскоп EM-40 представляет новую модель в линейке настольных микроскопов серии EM. Оснащен технологией сверхбыстрой обработки сигнала 5-го поколения и обеспечивает высококачественное изображение с частотой до 13 кадров в секунду. Четыре режима обработки изображений (Fast, Slow, UltraFast, Photo).

Опции:

• Новый графический интерфейс ПО NanoStation 5.0
  

  Программное обеспечение NanoStation 5.0 было доработано и оптимизирована для более быстрого и точного анализа. Позволяет наблюдать за формой образца и формировать изображение в реальном времени на дисплее с одновременным воспроизведением с четырех источников (SE, BSE, SE+BSE, навигационная камера). 

• Автофокусировка за 3 секунды
  

  Автофокусировка (AutoFocus, AF), значительно сокращающая время анализа изображений образцов.

• Скорость сканирования NanoStation 5.0 значительно повысилась, что позволяет выбирать предпочтительную скорость визуализации для более быстрого и качественного анализа образцов в различных режимах сканирования.
  
• Моторизованный предметный столик и держатель на несколько образцов
  Моторизованный предметный столик, позволяющий регулировать рабочее расстояние между электронной пушкой и образцом по оси Z.

• Функция редактирования архива
  Возможность многократно редактировать измерения образцов, аннотации и другие данные изображений, сохраненных в архиве. Также можно увеличивать сохраненные изображения в 12 раз с помощью функции масштабирования на дисплее.
• Функция сохранения местоположения
  При анализе нескольких образцов пользователи могут сохранять до 8 предпочтительных положений и быстро анализировать образцы, точно перемещаясь между сохраненными положениями.
• Функция ContinuousMagSave
  Функция ContinuousMagSave позволяет пользователям напрямую задавать различные значения увеличения в нужном положении, при этом изображения при заданных увеличениях автоматически захватываются и сохраняются.
• Панорама v2
  В ПО эта функция позволяет получать более точные и четкие изображения при анализе образцов большой площади.
• Совместимость с компактным устройством EBSD
  EBSD позволяет получить кристаллографические данные материала, анализируя дифракционную картину, созданную электронами, которые отражаются от поверхности образца при падении на нее пучка электронов. EM-40 производства Coxem, первый в мире настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с интеграцией EBSD, а также серия CX с интеграцией EBSD находят применение в различных областях, таких как металлургия, материаловедение и геология.
• Быстрый анализ частиц
  Повышенная скорость сканирования позволяет быстро анализировать отдельные частицы, причем точный анализ возможен не только в случае, когда образец состоит из одного элемента, но и когда он включает в себя несколько элементов.

• Функция переменного давления (10, 20, 30 Па)
  Режим переменного давления позволяет анализировать биологические образцы или изоляционные материалы без предварительной обработки образца.
• NanofiberScanner
  NanofiberScanner, новое аналитическое ПО от компании Coxem, идеально подходит для анализа асбеста. Программа позволяет пользователям сохранять изображения образцов и их положение в нужном месте при анализе больших площадей.
• STEM-анализ
  Сканирующий электронный микроскоп COXEM может работать в режиме STEM-анализа с использованием STEM-детектора.
• Охлаждаемый предметный столик
  При наблюдении за образцом, содержащим жидкость, охлаждающий столик снижает его температуру, что позволяет получать аналитические изображения без ущерба для уникальной микроструктуры образца и избежать сложного процесса подготовки образца, связанного с удалением и фиксацией влаги.

• Отличное качество изображения при любой кратности увеличения 
  С помощью EM-40 можно наблюдать образцы при большом увеличении до 250 000x, что позволяет получать изображения высокого разрешения, регулируя напряжение, рабочее расстояние и размер электронного пучка.

50 000х	150 000х	250 000х

Преимущества:

Внутренняя

Внешняя: