Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп (АСМ) hpAFM

ООО «Остек-АртТул»
121087, г. Москва, ул. Барклая, д. 6, стр. 3, эт/ком 5/1-17
(495) 788-44-44, (495) 788-44-42
www.arttool.ru, info@arttool.ru
ИНН 7731481038, КПП 773001001, ОГРН 5147746189036,
ОКПО 99721242

Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп (АСМ) hpAFM

Добавить в лист запросов запросить в один клик Заказать звонок

Печать/PDF

Описание
Электроника и программное обеспечение

Усовершенствованный атомно-силовой микроскоп, который выводит на новый уровень производительности и функциональности.

Сканер

Варианты диапазона сканирования XY: 10мкм / 100мкm с разрешением 24 Бит
Варианты диапазона сканирования Z: 5мкм / 15мкм с разрешением 24 Бит
Разрешение 0.01 нм
Работа по замкнутому циклу XYZ
Вакуумный держатель образцов - пластин до 8”
Независимый Z-сканер
Может удерживать образцы максимальным весом до 500г
Z моторизованный столик, диапазон 50мм, разрешение 250нм
XY моторизованный столик, диапазон 76мм, разрешение 50нм
Модуль АСМ:
- РЧ-модулированный лазер с низким уровнем шума 635 нм;
- уровень шума 25 фм√/Гц (макс.);
- магнитное разрешение <14 нм со сверхострыми кантилеверами

Видеомикроскоп

Объектив с 10-кратным увеличением, числовая апертура 0.28 NA, моторизованный привод фокуса
Оптическое разрешение 1 мкм
Моторизованный оптический зум с увеличением в 1-5 раз
8-мегапиксельная CMOS камера
Программно-регулируемый источник белого цвета
Камера бокового вида

Акустическая и виброизоляция

Акустический тепло- и виброизоляционный шкаф
Изолирующий шкаф с контролем атмосферы (опция)
0,5 Гц виброизоляционный столик в направлении XYZ
Система нагрева и охлаждения от -30 °C до +350 °C

Стандартные режимы работы

Контактный режим АСМ
Динамический режим АСМ
Микроскопия латеральных усилий
Фазовая визуализация
Магнитно-силовая микроскопия, МСМ
Кривые усилие-расстояние и спектроскопия
Электростатическая силовая микроскопия, ЭСМ
Бесконтактный режим АСМ с цифровой ФАПЧ с разрешением 5 мГц


STO 3 х 3 мкм	Углеродные нанотрубки с полимером. Изображение с согласия Д-ра Криса Робертса, Имперский колледж Лондона	Протравленный гипс 45 х 45 мкм	Кантилевер под видеомикроскопом

Дополнительные режимы микроскопии

Токочувствительная микроскопия АСМ (сопротивление растеканию)
Нанолитография
Измерения вязкоупругих свойств
Отображение сил адгезии
Проводящая микроскопия АСМ
Силовая микроскопия с зондом Кельвина
Силовая модуляционная микроскопия, СММ
Электрохимическая микроскопия с потенциостатом АСМ
Пьезоэлектрическая силовая микроскопия, ПЭСМ
Микроскопия замкнутой жидкостной ячейки АСМ
Наноиндектирование и склерометрия
Сканирующая туннельная микроскопия
Наномеханическая визуализация, НМВ
Скрипты
Динамическая латерально-силовая микроскопия
Сканирующий СВЧ-микроскоп, ССМ
Магнитное поле в плоскости/вне плоскости (±0.5 T в X, ±0.12 T в Z)
Сканирующая тепловая микроскопия (СТМ)

Аксессуары


Электромеханический АСМ	Электрохимическая ячейка	Генератор магнитного поля в плоскости


HDD TDK	Hi8 лента 45 х 45 мкм	Изображение многослойной нанотрубки из высокоориентированного пиролитического графита с использованием силовой микроскопии с зондом Кельвина, слева топография, справа рабочая функция	Этап охлаждения и нагрева образца


Высокоориентированный пиролитический графит с медным покрытием в электрохим. ячейке	Слюда после фтороводородного травления	Полимерная щетка 5 х 5 мкм	Наномагниты 10 х 10 мкм

Изображения пьезоэлектрической силовой микроскопии BCFO


Топография BCFO 10 х 10 мкм	Фаза BCFO 10 х 10 мкм	Амплитуда BCFO 10 х 10 мкм	Феррит бария 10 х 10 мкм


Деформация	Модуль Юнга	Рассеивание	Адгезия	Топография

Наномеханические изображения

Результаты магнито-силовой микроскопии с векторным магнитом


BX: 200 Гаусс BZ: 200 Гаусс	BX: 300 Гаусс BZ: 300 Гаусс	BX: 400 Гаусс BZ: 400 Гаусс	BX: 500 Гаусс BZ: 500 Гаусс

Крыло бабочки 4 х 4 мкм	Глаз цикады 60 х 60 мкм	Крыло цикады 15 х 15 мкм	Волос человека 30 х 30 мкм

Оптический усилитель 111 операционного усилителя, растровая емкостная микроскопия 80 х 80 мкм	Фаза растровой емкостной микроскопии 80 х 80 мкм	Фазовое изображение ПС-бПММА блоксополимер 2 х 2 мкм	Стафилококк золотистый (отриц.) 15 х 15 мкм

Нитрид бора в фосфатносолевом растворе	Органический монокристалл 1 х 1 мкм	Нанопорошок ферромагнитного половинного металла 3 х 3 мкм	Линия покрытая фосфорил коламином 30 х 30 мкм

Рыбная бактерия 25 х 25 мкм	Раковая клетка 50 х 50 мкм	Легированный кремниймочевина CoCl2, 10 х 10 мкм	Триблоксополимер Фазовое изображение

Электроника и программное обеспечение управления сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ)

Трехмерная визуализация
Функции обработки, анализа и записи
Одновременный сбор данных
Изображения до 8192x8192 пикселей
Автоматическое определение частоты кантилевера
Многопользовательская лицензия
Бесплатные обновления программного обеспечения на протяжении срока службы
ЦАП 24 Бит Скан
Разрешение Z-ЦАП 24 Бит
Цифровая обратная связь на программируемой логической интегральной схеме FPGA Обратная связь по сканирующей туннельной микроскопии и АСМ
АЦП 24 Бит 200кГц, 16 каналов
Выход напряжения смещения ±10V, 16 Бит
Цифровая ФАПЧ с разрешением 5мГц

* Изменения технических данных проводятся без уведомления

Документация

Скачивание файлов доступно только авторизованным пользователям

Vysokoproizvoditelnyy-atomno-silovoy-mikroskop-ASM-hpAFM.pdf 1.446 Мб

Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп (АСМ) hpAFM

Запросить в один клик

Заполните форму

Запрос оборудования на тестирование