Модульный прибор, который позволяет проводить одновременное исследование образца методами СЗМ и микроскопии / спектроскопии комбинационного рассеяния света и фотолюминесценции
Преимущества
Более 40 методов сканирующей зондовой микроскопии, в том числе спектроскопии и литографии, в базовой комплектации. Возможна работа в контактном и полу-контактном режиме, в электрических и магнитных модах, в режимах СТМ и СБОМ;
Все возможные оптические конфигурации: засветка и сбор сверху, снизу, сбоку; возможность реализации измерений методами сканирующей ближнепольной микроскопии. Возможность детектирования как спектров комбинационного рассеяния, так и фотолюминесценции;
Уникальная методика Hybrid для быстрого картирования механических свойств поверхности одновременно с получением АСМ топографии;
Лучшие в мире кантилеверные зондовые датчики для получения усиленного комбинационного рассеяния, гарантированная сдача TERS при установке соответствующей конфигурации в лабораторию клиента. Возможно получение усиленного комбинационного рассеяния кантилеверными зондами с максимальным откликом при минимальном износе активного покрытия зонда;
Наши специалисты первыми в мире вышли на рынок с комбинированным АСМ + Раман прибором. Большой опыт разработки СЗМ и совмещения АСМ с оптическими/ спектральными методиками измерений;
20 лет опыта онлайн-поддержки, обучения пользователей и диагностики неисправностей с использованием методов удалённого доступа к прибору клиента.
Поле сканирования СЗМ до 100х100х10 мкм, емкостные датчики контроля положения зонда по XYZ;
Уровень шума Z датчика ≤ 0.04 нм;
Нелинейность сканера по XY ≤ 0.1 %;
Разрешение оптической системы: до 200 нм по XY и до 400 нм по Z при работе на видимом диапазоне длин волн;
Фокусное расстояние спектрометра – 620 мм, спектральный диапазон 400 – 1000 нм;
До 5 встроенных инициирующих лазеров.
Запросить в один клик
Заказать звонок
Запрос оборудования на тестирование
?>
Сайт использует файлы cookie, обрабатываемые вашим браузером. Подробнее об этом вы можете узнать в Политике cookie.