Настольный растровый микроскоп Coxem EM-30N

Самая популярная модель настольного РЭМ на основе вольфрамовой нити. Благодаря технологии DSP (цифровой обработки сигнала) он обеспечивает кристально чистые изображения с низким уровнем шума даже при большом увеличении

Режим панорамы обеспечивает возможность сканирования широкой области, а режим низкого вакуума (LV) дает возможность получать первозданные высококачественные изображения непроводящих образцов без покрытия. EM-30N также является первым в мире настольным СЭМ, который легко интегрируется с компактным EBSD, что еще больше повышает его универсальность и производительность

Области применения:

Преимущество EM-30N заключается в том, что он позволяет наблюдать изображения с большим увеличением. С его помощью можно эффективно получать изображения высокого разрешения, регулируя напряжение, рабочее расстояние и размер электронного луча


 
Режимы:

• Режим сдвоенного отображения позволяет получать изображения SE и BSE в одном виде
• Режим комбинирования сигналов
• Сочетание SE- и BSE-изображений обеспечивает доступ к формам и химическому составу образцов в режиме режиме реального времени

Интерфейс NanoStation предоставляет множество средств навигации одним кликом в любом из трех различных увеличенных режимов

Микрообзор с использованием карты CCD Navi Cam или держателя проб для перемещения от образца к образцу или по большим участкам

Микрообзор с использованием изображения MiniMap с малым увеличением и индикатором поля зрения (FOV) для перемещения в пределах нанообзора образца при желаемом FOV позволяет производить измерения, щелкая по изображению или используя элементы управления Image Shift для идеального центрирования и выравнивания интересующих элементов образца

Анализ частиц

STEM-детектор

Компания Coxem предлагает настоящий выдвижной STEM-детектор, позволяющий EM-30N проводить ТЕМ-анализ образцов на стандартных решетках ТЕМ с использованием более высокого кВ, чем у других моделей настольных СЭМ. Возможна визуализация в светлом и темном поле, а также использование EDS на 4 образцах, установленных одновременно



Охлаждаемый столик

Проведение РЭМ-исследований влажных образцов требует различных предварительных обработок, таких как сушка в критической точке и фиксация. Чтобы сократить такие сложные процедуры подготовки образцов, система COXEM Coolstage понижает температуру образца для замораживания внутренней влаги, предотвращая разрушительное воздействие вакуума на хрупкую микроструктуру



Режим низкого вакуума

С помощью режима низкого вакуума (LV) можно легко получать изображения непроводящих образцов или изоляционных материалов без специальной предварительной подготовки



Режим двойного отображения/совмещения сигналов

На электронном микроскопе можно получать изображения путем сбора различных сигналов, передаваемых с образцов посредством электронного луча. Детектор SE может собирать данные об особенностях структуры путем улавливания вторичных  электронов (SE), а c помощью регистрируемых детектором BSE обратно-рассеянных электронов (BSE) можно получать данные о химическом составе и стереоскопические изображения образцов. Также возможно совмещение сигналов, в результате которого на одном экране выводится изображение форм и структур образцов





Программное обеспечение: