Оптическая интерференция белого света Измерение микро-нано 3D-формы в один клик

|

|

|
|
Интерференционный объектив
Линзы с разным увеличением подходят для образцов с различным типом поверхности: от ультрагладкой до шероховатой.
|
Стенд для вакуумной адсорбции
Стенд для вакуумной адсорбции, предназначенный для полупроводниковых пластин,
гарантирует, что на образцы не влияют
слабые возмущения воздушного потока в воздухе во время процесса измерения
|
Двуканальная система виброизоляции и воздушной флотации
Двухканальная система виброизоляции и воздушной флотации, которая напрямую наполняет воздухом внешний источник газа и устройство для повышения давления, может эффективно изолировать вибрационный шум, исходящий от земли
|

|

|

|
Изоляция звуковой вибрации
Корпус измерительного прибора и механизм внутреннего движения имеют раздельные конструкции, что способствует эффективной изоляции передачи звуковой вибрации
|
Устройство настройки уровня
Наклоните ручку регулировки, чтобы отрегулировать ширину полосы и повысить точность реконструкции 3D-изображений
|
Удобный рычаг управления
Имеет эргономичный дизайн, включает автоматическое управление трехосным XYZ перемещением и скоростью вала, а также яркостью источника света. Оснащен клавишей аварийной остановки
|
Область применения
Прибор имеет широкое применение в таких промышленных отраслях, как полупроводники, 3С электроника, особовысокоточная обработка, оптическая обработка, микро-наноматериалы, микроэлектромеханика и т.д., а также используется для измерения и анализа шероховатости поверхности, геометрического контура и других параметров прецизионных деталей.
Пример применения
Измерение и анализ характеристик формы поверхности различных изделий: равномерность деталей и поверхности материалов, шероховатость, волнистость, контур формы поверхности, дефект поверхности, износ, коррозия, интервал зазора, высота уступа, деформация изгиба, обработка и т.д.

ПО для измерения и анализа Vision 3D
Интегрированное системное ПО; измерение и анализ выполняются через один и тот же интерфейс, параметры анализа предварительно установлены, ПО автоматически подсчитывает данные измерений и реализует функцию быстрого измерения партии.

Таблица оптических спецификаций
Увеличение объектива
|
2.5x
|
5x
|
10x
|
20x
|
50x
|
100x
|
Числовая апертура
|
0.075
|
0.13
|
0.3
|
0.4
|
0.55
|
0.7
|
Оптическое разрешение при 550 нм (мкм)
|
3.7
|
2.1
|
0.92
|
0.69
|
0.5
|
0.4
|
Глубина резкости (мкм)
|
48.6
|
16.2
|
3.04
|
1.71
|
0.9
|
0.56
|
Рабочее расстояние (мм)
|
10.3
|
9.3
|
7.04
|
4.7
|
3.7
|
2.0
|
|
Поле обзора
H x V (мм)
|
Система изобра-
жения 1024×1024
|
0.5x
|
3.84×3.84
|
1.92×1.92
|
0.96×0.96
|
0.48×0.48
|
0.192×0.192
|
0.096×0.096
|
|
0.75x
|
2.56×2.56
|
1.28×1.28
|
0.64×0.64
|
0.32×0.32
|
0.128×0.128
|
0.064×0.064
|
1x
|
1.92×1.92
|
0.96×0.96
|
0.48×0.48
|
0.24×0.24
|
0.096×0.096
|
0.048×0.048
|
Модель прибора *1
|
OP100
|
OP100P
|
OP100U
|
Источник света
|
Белый свет LED
|
Система изображения
|
1024X1024
|
Интерференционный объектив
|
Стандарт: 10X Опционально: 2.5X, 5X, 20X, 50X, 100X
|
Оптический ZOOM
|
Стандарт: 0.5X Опционально: 0.375X, 0.75X, 1X
|
Стандартное поле обзора
|
0.98X0.98mm (10Xобъектив, оптический ZOOM 0.5X)
|
Вышка объектива
|
Стандарт: 3 ручных отверстия Опционально: 5 электрических отверстий
|
XY перемещающаяся платформа
|
Размер
|
320X200мм
|
300X300мм
|
320X200мм
|
|
Диапазон перемещения
|
140X100мм
|
200X200мм
|
140X100мм
|
|
Нагрузка
|
10кг
|
|
Способ управления
|
Электрический
|
Настройка уровня
|
±5°
|
Фокус оси Z
|
Ход
|
100мм
|
Способ управления
|
Электрический
|
Диапазон сканирования направления Z
|
10 мм
|
Повторяемость формы *2
|
0.1нм
|
Повторяемость RMS шероховатости*3
|
0.005нм
|
Измерение шага *4
|
Точность: 0.3 % Повторяемость: 0.08 % (1σ)
|
Скорость сканирования при разрешении 0.1 мкм
|
1.85nm/s
|
1.85nm/s
|
8Hm/s
|
Измеримый коэффициент отражения образца
|
0.05%~100%
|
Вес измерительного прибора
|
<160кг
|
Габариты системного блока (ДХШХВ)
|
700X606X920мм
|
Условия окружающей среды
|
Рабочая температура
|
15°C ~30°C, Градиент температуры< 1°C/15мин
|
Относительная влажность
|
5%-95%RH, без конденсации влаги
|
Вибрация окружающей среды
|
VC-C или лучше
|
Программный мониторинг шума *5
|
3oW4nm*4
|
Источник воздуха с виброизоляцией
|
0.6Mpa регулирование давления источника чистого воздуха, обезжиривание, осушение, диаметр воздушной трубы 6мм
(опционально: без источника воздуха)
|
Источник питания
|
100-240ВПТ, 50/60Гц, 4A Мощность 300Вт
|
Прочее
|
Нет мощного магнитного поля, нет разъедающего газа
|
1 W — стандартная модель оптического профилометра поверхности; в сравнении с OP100, в OP100P размер и ход предметного столика больше, что подходит для образцов большего размера; по сравнению с OP100, в OP100U скорость измерения значительно увеличена, что подходит для сфер применения, требующих высокой эффективности измерений.
*2 В лабораторных условиях используется модуль EPSI для измерения кремниевой пластины с Sa 0,2 нм, однополосного фильтра с полным полем обзора 80 мкм.
*3 Параметры шероховатости получены путем измерения RMS параметров кремниевой пластины с Sa 0,2 нм в лабораторных условиях в соответствии с международным стандартом ISO 25178.
*4 Параметры эффективности шага получены путем измерения высоты шага стандартного блока (4,7 мкм) в лабораторных условиях в соответствии со стандартом ISO5436-1:2000.
*5 Когда оценка шума программного оборудования составляет 4≤3σ≤10 нм, RMS повторяемость шероховатости снижается до 0,015 нм, точность высоты шага снижается до 0,7 %, а повторяемость высоты шага снижается до 0,12 %; когда оценка шума ПО составляет 3σ>10нм, окружающая среда не соответствует требованиям к использованию оборудования, необходимо изменить место измерения.