Универсальные рентгеновские дифрактометры и рентгеновские дифрактометры высокого разрешения широко используются в различных областях структурного анализа различных материалов.
К анализируемым материалам относятся: металлические материалы, неорганические материалы, композитные материалы, органические материалы, наноматериалы, сверхпроводящие материалы. Состояния материалов, которые можно анализировать, включают: образцы порошка, объемные образцы, образцы пленки и микрообразцы микрообластей.
Широко используется в глиняных минералах, цементных строительных материалах, окружающей среде, пыли, химических продуктах, фармацевтических препаратах, асбесте, горных породах, минералах и других областях исследований.
Разработанный для исследования материалов и анализа промышленных продуктов, DX-2700BH представляет собой комплексный продукт, сочетающий рутинный анализ с измерениями специального назначения.
- Идеальное сочетание аппаратной и программной системы для удовлетворения потребностей ученых и исследователей в различных областях применения.
-
Высокоточная система измерения угла дифракции для получения более точных результатов измерений
-
Высокостабильная система управления генератором рентгеновского излучения для более стабильной точности повторных измерений
-
Различные функциональные аксессуары отвечают потребностям различных целей тестирования
-
Программное управление, интегрированная конструкция, простота в эксплуатации, плотная структура и изящные очертания.
Рентгеновский дифрактометр является универсальным испытательным прибором, который выявляет кристаллическую структуру и химическую информацию материалов.
- Идентификация одной и многих фаз в неизвестных образцах
-
Количественный анализ известных фаз в смешанных образцах
-
Анализ кристаллической структуры (структурный анализ Ритвельда)
-
Кристаллическая структура изменяется в нетрадиционных условиях (при высокой температуре и низкой температуре)
-
Анализ образцов пленки, включая фазу пленки, толщину многослойной пленки, шероховатость поверхности, плотность заряда
-
Анализ проб микрорайонов
-
Текстура металлического материала, анализ напряжений
Сочетание безупречного качества и превосходной производительности
В дополнение к основным функциям дифрактометры DX-2700BH можно быстро настроить различные аксессуары для превосходных аналитических возможностей. Высокоточная система измерения угла дифракции для получения более точных результатов измерений
Высокоточная обработка значительно улучшает воспроизводимость положения крепления. Программное обеспечение автоматически распознает соответствующие аксессуары, нет необходимости калибровать оптический тракт, а установка аксессуаров осуществляется по принципу plug-and-play. Простейшая операция может удовлетворить потребность в измерении специального назначения.
Идеальное сочетание высокой производительности и практичности
- На основе конструкции геометрической оптики θ-θ, простой подготовки образцов и установки различных аксессуаров.
- Применение металлокерамической рентгеновской трубки значительно повышает рабочую мощность дифрактометра.
-
Закрытый пропорциональный счетчик, прочный и не требующий обслуживания
-
Кремниевый дрейфовый детектор с превосходным угловым и энергетическим разрешением, измеряющий более чем в 3 раза быстрее
-
Разнообразные аксессуары для дифрактометров для решения различных аналитических задач.
-
Автоматическая идентификация различных функциональных аксессуаров дифрактометра
-
Модульная конструкция или сборка plug-and-play, оператору не нужно калибровать оптическую систему, правильное использование аксессуаров дифрактометра
Программное обеспечение для обработки данных включает следующие функции
- Базовые функции обработки данных (нахождение пиков, сглаживание, вычитание фона, подгонка формы пика, усиление формы пика, спектральный контраст, выделение Kα1, α2, индексация дифракционных линий и т. д.)
-
Быстрый количественный анализ нестандартных образцов
-
Измерение размера зерна
-
Анализ кристаллической структуры (измерение и уточнение параметров ячейки)
- Измерение напряжения для расчета макро- и микронапряжений
-
2D и 3D отображение нескольких чертежей
-
Анализ кластеризации карты дифракционных пиков
-
Кривая коррекции полуширины данных дифракции
-
Калибровочная кривая отклонения угла дифракционных данных
-
Рутинный количественный анализ на основе Ритвельда
-
Качественный анализ объектов с использованием базы данных ICDD или пользовательской базы данных
-
Количественный анализ с использованием базы данных ICDD или базы данных ICSD