Notice: unserialize(): Error at offset 1208 of 5499 bytes in /home/ostec2/arttool.ru/www/pfo/api.backend.php on line 1555 Notice: unserialize(): Error at offset 4528 of 4807 bytes in /home/ostec2/arttool.ru/www/pfo/api.backend.php on line 1555 Координатно-измерительная машина МС-Инжиниринг модель МС-575 от компании Остек-АртТул

Новости

Векторный анализ сигналов от компании Tektronix для глубокого автономного анализа сложных радиочастотных и микроволновых сигналов

13
Авг

Компания Tektronix, Inc., производитель осциллографов, объявила о выпуске программного обеспечения SignalVu-PC, которое обеспечивает глубокий автономный анализ сложных сигналов, полученных с помощью анализаторов спектра реального времени компании Tektronix и осциллографов, включая MDO4000 — осциллограф с комбинированными областями анализа.  

Новые адаптирующиеся под пальцы насадки на рукоятки от компании JBC улучшают работу с нанопинцетами

25
Июл

Компания JBC разработала адаптирующиеся под положение пальцев оператора насадки на каждую рукоятку нанопинцетов NP105, облегчающую работу с микроскопическими компонентами поверхностного монтажа. Основной целью послужила оптимизация функциональности инструмента с помощью улучшения его эргономики.  

Компания Tektronix совершенствует анализ модулированных оптических сигналов

26
Май

Бракнелл, Великобритания – 1 мая 2012 г. – компания Tektronix, Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, объявила, что оптический анализатор серии OM4000 теперь может работать совместно со стробоскопическим осциллографом серии DSA8300 для выполнения анализа PM-QPSK, QAM и других сложных видов модуляции с более высоким разрешением по вертикали, чем у других решений, выполняющих обработку сигналов в реальном масштабе времени, при более низкой общей стоимости системы.  

Остек на выставке Металлообработка-2012

25
Май

С 28 мая по 1 июня в Москве, в Экспоцентре на Красной Пресне, пройдет 13-я Международная специализированная выставка «Оборудование, приборы и инструменты для металлообрабатывающей промышленности» - «Металлообработка-2012».  

Растровые электронные микроскопы с полевой эмиссией от компании JEOL позволяют получать изображения и проводить анализ с субнанометровым разрешением

18
Май

Растровые электронные микроскопы с полевой эмиссией серии JSM-7100F от компании JEOL обеспечивают получение изображений с разрешением менее 1 нм, а также возможность проводить микроанализ с разрешением менее 100 нм.  

Системы визуальных исследований и бесконтактных измерений на выставке ЭлектронТехЭкспо

05
Апр

На выставке ЭлектронТехЭкспо 2012, которая пройдет с 11 по 13 апреля в МВЦ «Крокус Экспо», на стенде ЗАО Предприятие Остек будут представлены системы визуальных исследований и бесконтактных измерений направления неразрушающего контроля  

Страницы:1...23242526...27

X

Заказать обратный звонок