18 Май
Растровые электронные микроскопы с полевой эмиссией серии JSM-7100F от компании JEOL обеспечивают получение изображений с разрешением менее 1 нм, а также возможность проводить микроанализ с разрешением менее 100 нм.
17 Май
В рамках выставки вы сможете получить профессиональную консультацию специалистов Остека о новейших технологиях и оборудовании для проведения испытаний, измерений и контроля.
05 Апрель
На выставке ЭлектронТехЭкспо 2012, которая пройдет с 11 по 13 апреля в МВЦ «Крокус Экспо», на стенде ЗАО Предприятие Остек будут представлены системы визуальных исследований и бесконтактных измерений направления неразрушающего контроля
04 Апрель
11-13 апреля 2012 года состоится Международная выставка ЭлектронТехЭкспо 2012, в рамках которой Предприятие Остек поделится с вами новыми знаниями, которые помогут производствам выйти на качественно новый уровень развития.
04 Апрель
Сокращение затрат на эксплуатацию, повышение эффективности складского пространства, увеличение скорости обработки товарно-материальных ценностей (ТМЦ), исключение ошибок и пересортицы